LDO 原理、选型与功耗计算 Low-Dropout Regulator
LDO(Low-Dropout Regulator,低压差线性稳压器)是板卡上最不起眼、又最容易翻车的器件之一。它把输入电压“削”到目标值,输出干净、没有开关噪声;代价是压差乘电流全部变成热。选型时只看“输出 1.8V、电流 500mA”远远不够:压差够不够、结温会不会超、输出电容会不会让环路振荡、100kHz 处 PSRR 还剩多少、静态电流会不会把电池耗光、能不能级联或并联,这些都要算。
本章讲 LDO 的器件级选型与功耗;调整管结构、环路极点、基准源的精度的完整推导,见线性稳压与基准源,本章不重复推导,只把口径对齐,并把“3.3V→1.8V/500mA”这个典型场景算完整。线性电源的整流滤波链路见线性电源:变压、整流、滤波;开关电源的纹波来源见开关电源原理与 Buck 降压。指标口径见电源指标:纹波、效率、调整率与时序;电池设备的静态电流、待机与充电管理见电池、充电管理与电量计。
1. 设计动机
现场一:3.3V→1.8V/500mA 选了 SOT-23-5。 功耗 (3.3-1.8)\times0.5=0.75 W,SOT-23-5 的结到环境热阻约 250°C/W(典型量级,以数据手册为准),温升 0.75\times250=187.5^{\circ}\text{C},环境 25°C 时结温 212.5°C,远超 125°C。芯片会热关断,或者用寿命换“能用”。
现场二:Buck 后级 LDO 只看 100Hz 的 PSRR。 前级 Buck 在 100kHz 有 100mVpp 纹波,LDO 的 100Hz PSRR 是 75dB,看起来输出只有 18µV;实际 100kHz 处 PSRR 只有 30dB,输出是 100/31.6=3.16 mV,对 1.8V/12 位 ADC 的 0.44mV LSB 是 7.2 个 LSB。PSRR 是频率的函数,必须按干扰频率查。
现场三:老式 PNP LDO 配 10µF 陶瓷电容。 陶瓷电容 ESR 只有几毫欧,ESR 零点跑到几百 kHz 之外,环路在穿越频率处没有相位提升,输出出现 100~500kHz 的持续振荡。换“陶瓷稳定”的新一代 PMOS LDO 就好了;但如果是老器件,必须按手册的 ESR 窗口选钽/电解。
现场四:电池待机三个月就没电。 LDO 的静态电流 1mA,3.7V 电池 2000mAh,理论待机 2/0.001=2000 小时,约 83 天;换成 10µA 的 LDO,理论 22.8 年,实际受电池自放电限制。I_Q 是电池设备选 LDO 的第一指标,不是 PSRR。
| 你想确认 | 先查/先算 | 判据(工程经验值,具体以数据手册为准) |
|---|---|---|
| 会不会进 dropout | V_{in,min}-V_{out} 与 V_{DO} | 最坏工况留 0.3~0.5V |
| 会不会过热 | P_d=(V_{in}-V_{out})I_{out} 与 R_{\theta ja} | T_j\le125^{\circ}\text{C}(降额后) |
| 环路稳不稳 | C_{out}、ESR、f_c | 老 PNP 按 ESR 窗口;新 PMOS 按手册最小 C_{out} |
| 前级纹波剩多少 | 干扰频率处的 PSRR | 折算到输出 <1 LSB |
| 噪声够不够 | 10Hz~100kHz 的 µVrms | 小于 1/2 LSB |
| 电池能撑多久 | I_Q 与关断电流 | 按待机电流算,不按额定电流 |
| 能不能级联 | 总压差、总 IQ、总 PSRR | 每级都留在 dropout 之上 |
| 能不能并联 | 输出电压容差与输出阻抗 | 直接并联会环流,需均流 |
不算会摔在哪,四个带数字的代价:
- 只算压差不算热:0.75W 在 SOT-23-5 上是 187.5°C 温升,不是“有点热”;换 DFN 带焊盘(约 60°C/W)后温升降到 45.2°C。
- 用 100Hz PSRR 代替 100kHz:100mVpp 纹波在 30dB 处剩 3.16mV,是 1.8V/12 位 LSB 的 7.2 倍。
- 老 PNP 配陶瓷:ESR 从 0.05Ω 降到 0.005Ω,ESR 零点从 31.8kHz 推到 318kHz,相位裕度从 57.5° 掉到 8.9°,振荡。
- 忽略 I_Q:1mA 静态电流让 2000mAh 电池的待机从 22.8 年(10µA)掉到 83 天,差 100 倍。
2. 定义与直观
2.1 一颗 LDO 由什么组成
LDO 是一个电压跟随负反馈:
- 调整管(Pass Element):串在输入与输出之间,像一个可变电阻;PMOS、PNP 或 NPN 达林顿都有人用。
- 误差放大器(Error Amplifier):把反馈电压 V_{FB} 与内部基准 V_{ref} 比较,驱动调整管。
- 反馈分压:V_{FB}=V_{out}R_2/(R_1+R_2),稳态时 V_{FB}=V_{ref},所以
其中 V_{ref} 是内部基准(V);R_1、R_2 是上、下分压电阻(\Omega)。固定输出版内部已配好分压,外部看不到。
- 输出电容 C_{out}:既是负载瞬态的能量缓冲,也是环路补偿的一部分。老式 PNP LDO 靠它的 ESR 零点稳定;现代 PMOS LDO 内部补偿,反而要求低 ESR 陶瓷。
2.2 压差与调整管:三种结构的代价
压差(Dropout Voltage,V_{DO})是维持稳压所需的最小输入输出压差。输入低于 V_{out}+V_{DO} 后,调整管完全导通,输出跟着输入掉,PSRR 和调整率同时失效。
| 结构 | 典型压差 | 输出阻抗 | 环路特点 | 输出电容 | 典型场景 |
|---|---|---|---|---|---|
| NPN 串联(78xx) | 1.5~2.5V | 低(射极跟随) | 单管、易稳定 | 不挑 | 工频整流后级、便宜 |
| PNP LDO | 0.2~0.6V | 高(共射) | 两极点,需 ESR 零点 | 要求 ESR 窗口 | 5V→3.3V、老设计 |
| PMOS/CMOS LDO | 0.1~0.3V | 中(共源) | 片内补偿,可陶瓷稳定 | 低 ESR 陶瓷 | 便携、射频、ADC |
PMOS 的压差是导通电阻上的压降:
V_{DO}=I_{out}R_{DS(on)}其中 I_{out} 是负载电流(A);R_{DS(on)} 是调整管导通电阻(\Omega)。例如 R_{DS(on)}=0.6\,\Omega、I_{out}=0.3 A,V_{DO}=0.18 V。NPN 的压差还要叠 V_{BE},达林顿再叠一个 V_{BE},所以 78xx 的压差典型 1.5~2.5V(以数据手册为准)。
低压制差不是免费的:同样电流下 R_{DS(on)} 越小,调整管面积越大,栅极电容越大,内部极点越低,补偿越难。低压差、低噪声、高 PSRR 三者往往不能同时最优。
2.3 静态电流与效率
静态电流(Quiescent Current,I_Q)是芯片自身消耗、不流向负载的电流。LDO 的效率:
\eta=\frac{V_{out}I_{out}}{V_{in}(I_{out}+I_Q)}其中 V_{in}、V_{out} 是输入、输出电压(V);I_{out} 是负载电流(A);I_Q 是静态电流(A)。
- 重载时 I_Q\ll I_{out},\eta\approx V_{out}/V_{in};
- 轻载时 I_Q 不能忽略,\eta 迅速下降;
- 空载时 I_{out}=0,效率没有定义,只剩 V_{in}I_Q 的待机功耗。
算一遍:3.3V→1.8V/0.5A、I_Q=1 mA。
\eta=\frac{1.8\times0.5}{3.3\times(0.5+0.001)}=\frac{0.9}{1.6533}=54.4\%负载降到 1mA:
\eta=\frac{1.8\times0.001}{3.3\times(0.001+0.001)}=\frac{0.0018}{0.0066}=27.3\%同一个 LDO,满载 54.4%、1mA 时 27.3%。 电池设备要按实际负载曲线选,不能只看满载效率。
2.4 PSRR 的频率特性
电源抑制比(Power Supply Rejection Ratio,PSRR)是输入电压变化与输出变化之比,是电压比,所以用 dB:
PSRR=\frac{\Delta V_{in}}{\Delta V_{out}},\qquad PSRR(\text{dB})=20\lg\frac{\Delta V_{in}}{\Delta V_{out}}纹波折算:
V_{out,ripple}=\frac{V_{in,ripple}}{10^{PSRR(\text{dB})/20}}其中 V_{in,ripple} 是输入纹波(V,峰峰值或有效值,口径要一致);V_{out,ripple} 是输出纹波(同口径)。
PSRR 随频率下降:低频时环路增益高,能把输入扰动压得很低;到环路增益降到 1 附近,PSRR 靠输出电容分压和片内前馈维持,继续下降。典型量级:
| 频率 | 通用 LDO 的 PSRR | 说明 |
|---|---|---|
| 100Hz | 70~80dB | 工频纹波,环路增益高 |
| 1kHz | 60~70dB | 开始滚降 |
| 10kHz | 45~55dB | 环路增益下降 |
| 100kHz | 30~40dB | 开关电源主频段,最需要看 |
| 1MHz | 15~25dB | 输出电容/前馈主导 |
这些是典型量级,具体以数据手册曲线为准;不同型号在 100kHz 处能差 20dB。 高性能低噪声 LDO 在 100kHz 可以做到 45~55dB,但价格、静态电流和输出电容要求也更高。
PSRR 的测试条件必须一起看:V_{in}-V_{out}、I_{out}、C_{out}、温度、纹波幅度。手册首页的 75dB 通常是 V_{in}=V_{out}+1 V、I_{out}=100 mA、C_{out}=1\,\muF 的典型值;实际板子上 C_{out} 更大、压差更大,曲线会变。
2.5 输出噪声:LDO 自己产生的扰动
PSRR 描述“输入纹波漏过来多少”;输出噪声(Output Noise)描述“LDO 自己产生多少”。单位 µVrms,测试带宽常为 10Hz~100kHz。噪声来源:
- 内部基准的噪声;
- 误差放大器的输入噪声;
- 分压电阻的热噪声;
- 调整管的闪烁噪声。
噪声与 PSRR 是两件事:PSRR 再高,也不能消除内部噪声;噪声再低,也不能挡住输入纹波。低噪声 LDO 通常在基准和误差放大器上做文章,并引出 NR/SS 引脚外接电容。
NR/SS 电容的作用:
- 降噪:对基准分压形成低通,把 µV 级基准噪声再压低;输出噪声可从约 30µVrms 降到约 10µVrms(典型量级,以数据手册为准)。
- 软启动:上电时引脚电压缓慢爬升,V_{out} 跟随斜升,限制涌入 C_{out} 的浪涌电流 I_{inrush}=C_{out}\,dV/dt。
- 取值:C_n 典型 0.01~0.1µF;越大噪声越低、软启动越慢。太大会超过后级 POR 的等待窗口。
2.6 瞬态与输出电容
负载突变时,环路来不及响应,C_{out} 先供电。跌落由两部分组成:
\Delta V_{under}\approx\Delta I\left(ESR+\frac{1}{2\pi f_cC_{out}}\right)其中 \Delta I 是负载阶跃(A);ESR 是输出电容等效串联电阻(\Omega);f_c 是环路穿越频率(Hz);C_{out} 是输出电容(F)。
- 第一项是 ESR 上的瞬时跳变,\Delta I\times ESR;
- 第二项是环路响应时间 1/(2\pi f_c) 内电容放电造成的跌落;
- 环路越快(f_c 越高)、电容越大,跌落越小;但 f_c 太高会牺牲相位裕度。
算一遍:\Delta I=0.5 A、ESR=0.05\,\Omega、C_{out}=100\,\muF、f_c=50 kHz。
\Delta V_{under}\approx0.5\times\left(0.05+\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times100\times10^{-6}}\right)=0.5\times(0.05+0.0318)=0.5\times0.0818=40.9\ \text{mV}2.7 ESR 稳定窗口的两代口径
这是 LDO 选型最容易套错经验的地方:
- 老式 PNP LDO:输出在集电极,输出阻抗高,环路至少两个极点;必须靠 C_{out} 的 ESR 零点在穿越频率附近补相位。ESR 太小(纯陶瓷),零点太高,补偿不足;ESR 太大,零点太低,增益被抬平,穿越频率被推高,第二极点又开始吃相位裕度,同时 ESR 上的纹波和瞬态跌落变大。ESR 窗口是“相位”和“瞬态”两头夹出来的。
- 现代 PMOS/CMOS LDO:片内补偿,输出电容主要做瞬态储能;手册通常要求“低 ESR 陶瓷,C_{out} 在某个最小值以上”,而不是 ESR 区间。给老 PNP 硬配陶瓷会振荡;给现代 PMOS 硬加 1Ω 电解,可能反而让瞬态变差。
结论:先看器件世代,再看手册的“Output Capacitor”章节,不要套用上一颗器件的经验。
2.8 级联与并联:能,但有条件
级联(Cascading):两级 LDO 串联,例如 5V→3.3V→1.8V。可以,但要满足:
- 每级都有足够压差:第一级输出必须高于第二级 V_{out}+V_{DO},包括纹波谷点和负载瞬态;
- 总压差与总功耗相加:5V→1.8V 直接一级的功耗是 (5-1.8)I,两级串联的总功耗近似相同(忽略 IQ),不会因为“分两段”而变省;
- 总 PSRR 在 dB 上相加(近似):PSRR_{total}\approx PSRR_1+PSSR_2,但只在第二级的 PSRR 测试源阻抗与第一级输出阻抗接近时成立;中间电容和 PCB 阻抗可能在高频形成旁路;
- 总 IQ 相加,电池设备要算两遍;
- 每级仍要各自稳定:第一级的 C_{out} 就是第二级的“输入电容”,要按两级手册分别核对。
并联(Paralleling):两颗 LDO 直接并联,通常不可以。两颗器件的输出电压有容差,输出阻抗又低,微小的电压差会产生很大的环流:
I_c=\frac{V_1-V_2}{R_{o1}+R_{o2}}其中 V_1、V_2 是两颗 LDO 的实际输出电压(V);R_{o1}、R_{o2} 是它们的输出电阻(\Omega);I_c 是环流(A)。1.8V 输出、±1% 容差是单颗 18mV,但两颗独立器件差值最坏 36mV;每颗输出电阻 10mΩ,环流 36\text{mV}/20\text{m\Omega}=1.8 A,足以让其中一颗限流或过热。
要并联,只有三条路:
- 用支持均流的 LDO(带共享引脚或主从配置);
- 每颗输出串均流电阻(ballast),但电阻上的压降会牺牲调整率与效率;
- 改用一颗更大电流的 LDO,或用多相 Buck。
3. 定量关系
3.1 功耗与结温
P_d=(V_{in}-V_{out})I_{out}+V_{in}I_Q其中 P_d 是耗散(W);V_{in}、V_{out} 是输入、输出电压(V);I_{out} 是负载电流(A);I_Q 是静态电流(A)。第一项是调整管上的压降乘电流,第二项是芯片自身供电。
T_j=T_a+P_dR_{\theta ja}其中 T_j 是结温(°C);T_a 是环境温度(°C);R_{\theta ja} 是结到环境热阻(°C/W)。带散热焊盘时,R_{\theta ja} 由封装、铜箔面积、过孔数量决定,数据手册的测试板条件往往比实际板子好,要留 1.5~2 倍余量。
反解允许的最大热阻:
R_{\theta ja,max}=\frac{T_{j,max}-T_a}{P_d}算一遍:3.3V→1.8V/0.5A、I_Q=1 mA。
P_d=(3.3-1.8)\times0.5+3.3\times0.001=0.75+0.0033=0.753\ \text{W}SOT-23-5 的 R_{\theta ja}=250^{\circ}\text{C/W}:
T_j=25+0.753\times250=213.3^{\circ}\text{C}远超 125°C。带裸露焊盘的 DFN,R_{\theta ja}=60^{\circ}\text{C/W}:
T_j=25+0.753\times60=70.2^{\circ}\text{C}可用。同一颗芯片、同一个电路,封装和铜箔决定它能不能活。
3.2 效率
\eta=\frac{V_{out}I_{out}}{V_{in}(I_{out}+I_Q)}轻载时 I_Q 不能忽略。只有 I_{out}\ll I_Q 时,才能把分母近似为 I_Q:
\eta\approx\frac{V_{out}I_{out}}{V_{in}I_Q}算一遍:1.8V 输出、3.3V 输入、I_Q=1 mA。
- 负载 0.5A:\eta=1.8\times0.5/[3.3\times(0.5+0.001)]=54.4\%。
- 负载 1mA:I_{out} 与 I_Q 相等,必须用完整式:\eta=1.8\times0.001/[3.3\times(0.001+0.001)]=27.3\%。
- 负载 10µA:\eta=1.8\times10^{-5}/[3.3\times(10^{-5}+10^{-3})]=0.54\%;此时近似式给 1.8\times10^{-5}/(3.3\times10^{-3})=0.545\%,误差很小,因为 I_{out}\ll I_Q。
近似式的条件是 I_{out}\ll I_Q,不是“轻载”两个字。 电池待机时 LDO 的效率通常只有百分之几,这时看的不是效率,而是绝对待机电流。
3.3 PSRR 与纹波折算
PSRR(\text{dB})=20\lg\frac{\Delta V_{in}}{\Delta V_{out}}V_{out,ripple}=\frac{V_{in,ripple}}{10^{PSRR/20}}算一遍:输入 100mVpp、100kHz,PSRR 分别为 30dB、40dB、48dB。
30\text{dB}\Rightarrow V_{out}=\frac{100}{31.62}=3.16\ \text{mV}40\text{dB}\Rightarrow V_{out}=\frac{100}{100}=1.00\ \text{mV}48\text{dB}\Rightarrow V_{out}=\frac{100}{251.2}=0.398\ \text{mV}对 1.8V/12 位 ADC,1 LSB =1.8/4096=0.4395 mV:
3.16/0.4395=7.19\ \text{LSB},\qquad 1.00/0.4395=2.28\ \text{LSB},\qquad 0.398/0.4395=0.91\ \text{LSB}要把 100kHz 纹波压到 1 LSB 以内,PSRR 至少要 20\lg(100/0.4395)=47.1 dB。 30dB 的通用 LDO 不够,必须选高 PSRR 型号,或在 LDO 前加 LC/磁珠滤波。
3.4 输出噪声
噪声密度 e_n(f) 的单位是 µV/√Hz 或 nV/√Hz。总有效值噪声是密度的积分:
V_{n,rms}=\sqrt{\int_{f_1}^{f_2}e_n^2(f)\,df}如果 e_n 在带宽内近似白噪声:
V_{n,rms}=e_n\sqrt{f_2-f_1}其中 e_n 是噪声密度(V/√Hz);f_1、f_2 是积分下限、上限(Hz)。
算一遍:e_n=20 nV/√Hz,带宽 10Hz~100kHz。
V_{n,rms}=20\times10^{-9}\times\sqrt{10^5-10}=20\times10^{-9}\times316.2=6.32\ \mu\text{Vrms}实际 LDO 的噪声在低频有 1/f 分量,积分值通常比白噪声估算高 1.5~3 倍;数据手册直接给的 10Hz~100kHz 的 µVrms 更可靠。对 1.8V/12 位 ADC,6.32µVrms 只有 0.00632/0.4395=0.014 LSB,可忽略;但对 16 位 ADC(1.8V 满量程,1 LSB =1.8/65536=27.5\,\muV),30µVrms 约 30/27.5=1.09 LSB,开始进入预算。
3.5 瞬态的估算
\Delta V_{under}\approx\Delta I\left(ESR+\frac{1}{2\pi f_cC_{out}}\right)符号与单位同 2.6。恢复时间的一阶估算:
t_s\approx\frac{4}{2\pi f_c}算一遍:\Delta I=0.5 A、ESR=0.05\,\Omega、C_{out}=100\,\muF、f_c=50 kHz。
\Delta V_{under}=0.5\times(0.05+0.0318)=40.9\ \text{mV}t_s=\frac{4}{2\pi\times50\times10^3}=12.7\ \mu\text{s}若目标跌落 ≤36mV(1.8V 的 ±2%),40.9mV 已经超标;加大 C_{out} 到 220µF:
\Delta V_{under}=0.5\times\left(0.05+\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times220\times10^{-6}}\right)=0.5\times(0.05+0.0145)=32.3\ \text{mV}满足 36mV。电容从 100µF 加到 220µF,跌落从 40.9mV 降到 32.3mV,代价是体积和上电浪涌。
3.6 ESR 窗口
ESR 零点:
f_z=\frac{1}{2\pi ESR\,C_{out}}相位裕度的一阶估算:
PM\approx\arctan\frac{f_c}{f_z}ESR 下限由 PM\ge45^{\circ}(即 f_z\le f_c)给出:
ESR\ge\frac{1}{2\pi f_cC_{out}}ESR 上限由允许的负载阶跃跌落给出:
ESR\le\frac{\Delta V_{allowed}}{\Delta I}算一遍:C_{out}=100\,\muF、f_c=50 kHz、\Delta I=0.5 A、\Delta V_{allowed}=100 mV。
ESR_{min}=\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times100\times10^{-6}}=0.0318\ \OmegaESR_{max}=\frac{0.1}{0.5}=0.2\ \Omega窗口 0.0318~0.2Ω。取 0.05Ω:
f_z=\frac{1}{2\pi\times0.05\times100\times10^{-6}}=31.8\ \text{kHz}PM\approx\arctan\frac{50}{31.8}=57.5^{\circ}V_{ESR}=0.5\times0.05=25\ \text{mV}若用 10µF 陶瓷(ESR 约 0.005Ω):
ESR_{min}=\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times10\times10^{-6}}=0.318\ \Omega而 ESR_{max}=0.2\,\Omega,窗口为空:这颗老 PNP LDO 在 10µF 下既不稳定,也不满足瞬态。要么把 C_{out} 加到 100µF,要么换陶瓷稳定的 PMOS LDO。
3.7 级联的加法
两级串联,总压差、总功耗、总 IQ、总 PSRR:
V_{drop,total}=V_{drop1}+V_{drop2}P_{d,total}\approx(V_{in1}-V_{out2})I_{out}+V_{in1}I_{Q1}+V_{in2}I_{Q2}PSRR_{total}(\text{dB})\approx PSRR_1(\text{dB})+PSRR_2(\text{dB})算一遍:5V→3.3V(PSRR 40dB @100kHz)→1.8V(PSRR 48dB @100kHz)。
PSRR_{total}\approx40+48=88\ \text{dB}V_{out,ripple}=\frac{100\ \text{mV}}{10^{88/20}}=\frac{100}{25119}=3.98\ \mu\text{V}总效率(忽略 IQ):
\eta\approx\frac{1.8}{5}=36.0\%总压差:
V_{drop,total}=(5-3.3)+(3.3-1.8)=1.7+1.5=3.2\ \text{V}级联能把 PSRR 叠到 88dB,但效率只有 36%,而且两级都要散热。 只有在“前级纹波极大、后级要求极干净”时才值得。
3.8 并联的环流
I_c=\frac{V_1-V_2}{R_{o1}+R_{o2}}算一遍:两颗 1.8V LDO,各 ±1% 容差——单颗偏 18mV,但两颗取值相反时差值最坏 36mV;每颗输出电阻 10mΩ。
I_c=\frac{18\ \text{mV}}{20\ \text{m\Omega}}=0.9\ \text{A}如果每颗额定 1A,环流已经吃掉 90% 的余量;如果额定 0.5A,直接过流。加 0.1Ω 均流电阻:
I_c=\frac{18\ \text{mV}}{2\times0.1+0.02}=\frac{18}{220}=81.8\ \text{mA}环流降到 82mA,但 0.5A 负载时每颗电阻压降 0.5\times0.1=50 mV,输出调整率变差。加 0.5Ω:
I_c=\frac{18}{1.02}=17.6\ \text{mA}环流可接受,但 1A 时压降 0.5V,LDO 的压差余量被吃掉。并联不是“加颗电阻”就能解决,优先选支持均流的器件或单颗大电流 LDO。
3.9 适用条件与失效边界
- 压差:V_{in,min} 必须高于 V_{out}+V_{DO},包括纹波谷点、负载瞬态、电池末端。
- 热:P_d 按最坏 V_{in}、最大 I_{out}、最高 T_a 算;R_{\theta ja} 按实际铜箔,不按手册测试板。
- 稳定性:老 PNP 看 ESR 窗口;现代 PMOS 看最小/最大 C_{out} 与 ESR 上限;不要跨世代套经验。
- PSRR:按干扰频率查,不按 100Hz 值;注意测试条件。
- 噪声:按 10Hz~100kHz 的 µVrms 查,不按噪声密度峰值。
- 反向电流:输入掉电比输出快时,输出电容会通过调整管/体二极管向输入倒灌;要选带反向保护或加肖特基。
- 输入瞬态:热插拔、浪涌可能超过绝对最大值;加 TVS/限流。
4. 典型计算
4.1 3.3V→1.8V/500mA 完整设计
需求与假设:
| 项目 | 数值/假设 |
|---|---|
| 输入 | 3.3V ±5%(3.135~3.465V) |
| 输出 | 1.8V/0.5A |
| 环境 | 25°C,目标 T_j\le125^{\circ}\text{C} |
| 前级纹波 | 100kHz 处 100mVpp |
| ADC | 12 位、1.8V,1 LSB=0.4395mV |
| 目标输出纹波 | <1 LSB(0.4395mV) |
| 瞬态目标 | 0.5A 阶跃,跌落 ≤36mV(1.8V 的 ±2%) |
| 封装候选 | SOT-23-5(250°C/W)、DFN 带焊盘(60°C/W) |
| LDO 静态电流 | 1mA(示例值) |
| 环路 | f_c\approx50 kHz(示例值) |
第 1 步:压差。 最低输入 3.135V,输出 1.8V,压差 1.335V。所选 PMOS LDO 在 0.5A 时 V_{DO}\approx0.2 V(示例值,以数据手册为准),余量 1.335-0.2=1.135 V,全程不会进 dropout。
第 2 步:功耗。 名义:
P_d=(3.3-1.8)\times0.5+3.3\times0.001=0.75+0.0033=0.753\ \text{W}最坏输入 3.465V:
P_d=(3.465-1.8)\times0.5+3.465\times0.001=0.8325+0.0035=0.836\ \text{W}第 3 步:结温。 SOT-23-5:
T_j=25+0.753\times250=213.3^{\circ}\text{C}>125^{\circ}\text{C}不可用。DFN 带焊盘:
T_j=25+0.753\times60=70.2^{\circ}\text{C}最坏输入:
T_j=25+0.836\times60=75.2^{\circ}\text{C}环境升到 60°C 时:
T_j=60+0.836\times60=110.2^{\circ}\text{C}留 14.8°C 余量。允许的最大热阻:
R_{\theta ja,max}=\frac{125-60}{0.836}=77.8^{\circ}\text{C/W}选 60°C/W 的 DFN + 铺铜,满足。
第 4 步:PSRR。 目标输出纹波 <1 LSB = 0.4395mV,输入 100mVpp:
PSRR_{min}=20\lg\frac{100}{0.4395}=20\lg227.6=47.1\ \text{dB}通用 LDO 在 100kHz 只有 30~40dB,不够;选 100kHz ≥48dB 的高 PSRR 型号:
V_{out,ripple}=\frac{100}{10^{48/20}}=\frac{100}{251.2}=0.398\ \text{mV}=0.91\ \text{LSB}满足。若只能选 45dB 的器件:
V_{out,ripple}=\frac{100}{177.8}=0.562\ \text{mV}=1.28\ \text{LSB}不满足,需要在 LDO 前加 LC/磁珠,或把 ADC 基准单独滤波。
第 5 步:输出电容。 分两种情况:
- 现代 PMOS LDO(陶瓷稳定):按手册选 10µF X5R + 0.1µF,ESR 几毫欧;手册通常要求 C_{out}\ge1\sim10\,\muF,且 ESR 在某个上限以下。10µF 在 1.8V 偏置下容值可能掉 20%,实际 8µF;瞬态跌落:
201mV 远超 36mV,说明 10µF 单独不够,需要加 100µF bulk 或提高 f_c。加上 100µF 后总容值约 110µF:
\Delta V_{under}=0.5\times\left(0.005+\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times110\times10^{-6}}\right)=0.5\times(0.005+0.0289)=17.0\ \text{mV}满足 36mV。“陶瓷稳定”不等于“10µF 就能满足瞬态”,要按负载阶跃算。
- 老式 PNP LDO(ESR 窗口):C_{out}=100\,\muF、f_c=50 kHz,ESR 窗口 0.0318~0.2Ω,取 0.05Ω:
40.9mV 略高于 36mV;把 C_{out} 加到 220µF:
\Delta V_{under}=0.5\times(0.05+0.0145)=32.3\ \text{mV}满足。但 220µF 钽/电解的体积和成本要接受。如果不想用大电容,就选陶瓷稳定的新 PMOS LDO,并加 100µF bulk 解决瞬态。
第 6 步:级联与并联的取舍。
- 如果输入是 5V,可以先 5V→3.3V(PSRR 40dB),再 3.3V→1.8V(PSRR 48dB),总 PSRR 约 88dB,输出纹波 3.98µV;但总效率只有 36%,两级都要散热。只有在 5V 前级纹波极大、且 1.8V 要求极干净时才值得。
- 如果 1.8V 需要 1A,不要用两颗 0.5A LDO 并联:1% 容差、10mΩ 输出电阻会产生 0.9A 环流;用一颗 1A LDO,或支持均流的器件。
第 7 步:验证。
- 压差:输入从 3.465V 降到 3.0V,测输出何时开始跌落;
- 结温:热电偶贴 DFN 焊盘,稳定 30min 后读;按 T_j=T_a+P_dR_{\theta ja} 反算;
- PSRR:在 100kHz 注入 100mVpp,测输出纹波;
- 瞬态:0.5A 阶跃(0.1↔0.6A,1A/µs),测跌落与恢复;
- 输出电容:按手册的 C_{out} 范围与 ESR 范围核对,不要只看容值。
4.2 5V→3.3V/300mA 的封装对比
同样 0.3A、I_Q=1 mA:
P_d=(5-3.3)\times0.3+5\times0.001=0.51+0.005=0.515\ \text{W}SOT-23-5(250°C/W):
T_j=25+0.515\times250=153.8^{\circ}\text{C}DFN(60°C/W):
T_j=25+0.515\times60=55.9^{\circ}\text{C}0.515W 在 SOT-23-5 上就是 128.8°C 温升;同样的芯片换 DFN + 铺铜,结温降 98°C。选型时先算 P_d,再选封装,不要反过来。
4.3 级联与并联的数值对比
| 方案 | 总压差 | 总效率 | 100kHz 总 PSRR | 主要代价 |
|---|---|---|---|---|
| 5V→1.8V 单级 | 3.2V | 36.0% | 48dB | 功耗 1.6W @0.5A,散热大 |
| 5V→3.3V→1.8V 两级 | 3.2V | 36.0% | 88dB | 两颗器件、两级散热、总 IQ 加倍 |
| 两颗 1.8V LDO 并联 | 1.5V | 54.4% | 48dB | 环流 0.9A,需均流 |
| 5V→3.3V Buck + 3.3V→1.8V LDO | — | 约 80%~85% | 48dB(LDO 级) | 开关噪声、电感、成本 |
单级 LDO 的效率由 V_{out}/V_{in} 决定,级联不会改变这个比值;级联只买 PSRR,不买效率。 要大电流、大压差,先用 Buck 预稳压,再用 LDO 后级,见开关电源原理与 Buck 降压。
5. 工程含义
5.1 数量级:先有直觉,再查手册
| 指标 | 78xx(NPN) | 老式 PNP LDO | 现代 PMOS LDO | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 压差 | 1.5~2.5 | 0.2~0.6 | 0.1~0.3 | V |
| 静态电流 | 3~8 | 0.5~5 | 0.01~1 | mA |
| 100Hz PSRR | 60~75 | 60~80 | 60~80 | dB |
| 100kHz PSRR | 20~30 | 25~40 | 30~45 | dB |
| 输出噪声(10Hz~100kHz) | 50~100 | 20~50 | 5~30 | µVrms |
| 输出电容 | 不挑 | 需 ESR 窗口 | 陶瓷 1~10µF | — |
| 热阻(SOT-23-5) | — | 200~250 | 200~250 | °C/W |
| 热阻(DFN+焊盘) | — | 50~80 | 50~80 | °C/W |
这些是典型量级,具体以数据手册为准。 不同厂商、不同修调等级可以差一个数量级。
5.2 选型顺序
- 定压差:V_{in,min}-V_{out}\ge V_{DO}+0.3 V;否则进 dropout,PSRR 和调整率全部失效。
- 算热:按最坏 V_{in}、最大 I_{out}、最高 T_a 算 T_j;封装热阻按实际铜箔。
- 查稳定性:老 PNP 看 ESR 窗口;陶瓷稳定型看最小/最大 C_{out} 与 ESR 上限。
- 查 PSRR:按前级开关频率查曲线;不够就加 LC/磁珠或换器件。
- 查噪声:按 10Hz~100kHz 的 µVrms 与 ADC 的 LSB 比。
- 查 IQ:电池设备按待机电流算,不按满载效率。
- 定封装与布局:DFN 焊盘、过孔、铜箔面积;FB 走线远离功率节点。
5.3 布局与热设计
- 输入/输出电容就近:输入电容紧贴 V_{in} 与地,输出电容紧贴 V_{out} 与地;电容到芯片的回路面积越小,高频阻抗越低。
- FB 走线:从输出电容正端开尔文接回 FB,不要从负载端随便引;FB 是高阻节点,远离 SW 节点、电感和时钟线。
- 热焊盘:DFN/QFN 的裸露焊盘必须焊到铺铜,过孔阵列到内层地;没有散热焊盘时,R_{\theta ja} 可能比手册高 1.5~2 倍。
- 地:输入电容地、输出电容地、负载地单点汇合,避免负载电流在公共地阻抗上产生压降,把噪声“抬”到 FB。
- 反向保护:输入掉电比输出快时,加肖特基或选带反向电流保护的 LDO。
- EN 引脚:不能悬空;不用时上拉到 V_{in} 或下拉到地,按手册定义。
5.4 什么时候不该用 LDO
- 大压差:12V→3.3V/1A 耗散 8.7W,物理上扛不住;先用 Buck 降到 4~5V,再用 LDO。
- 大电流:5A 级 LDO 又贵又大,多相 Buck 更合适。
- 效率敏感:电池设备、绿色能源;LDO 的效率上限就是 V_{out}/V_{in}。
- 需要升压:LDO 只能降压,不能升压;用 Boost 或 Buck-Boost。
- 需要隔离:LDO 不隔离;用隔离电源或变压器。
6. 常见坑
- 现象:LDO 烫手、输出周期性掉电。原因:只算压差够不够,没算 P_d=(V_{in}-V_{out})I_{out} 与结温;SOT-23-5 的 250°C/W 在 0.75W 下就是 187.5°C 温升。解决:按最坏 V_{in}、最大 I_{out} 算 T_j;换 DFN 带焊盘、铺铜、打过孔;必要时降电流或改用 Buck。
- 现象:老 PNP LDO 配 10µF 陶瓷,输出叠 100~500kHz 振荡。原因:陶瓷 ESR 太低,ESR 零点跑到穿越频率之外,相位裕度不足;10µF 时 ESR 窗口甚至是空的。解决:按手册 ESR 窗口选钽/电解,或把 C_{out} 加到 100µF 以上;要陶瓷电容就换“陶瓷稳定”的 PMOS LDO。
- 现象:100Hz PSRR 有 75dB,ADC 仍随 Buck 负载跳。原因:Buck 的 100kHz 纹波处 PSRR 只有 30dB,100mV 变成 3.16mV(7.2 LSB);或纹波从基准/分压网络绕过环路。解决:按开关频率查 PSRR;选 100kHz ≥48dB 的器件;加 LC/磁珠;基准单独滤波,FB 远离功率节点。
- 现象:两级 LDO 级联后,第二级输出掉出稳压。原因:只算了自己的压差,没算第一级的纹波谷点和负载瞬态;总压差是两级之和,第二级的 V_{in,min} 可能低于 V_{out}+V_{DO}。解决:按最低输入、最大负载、纹波谷点逐级核算;每级留 0.3~0.5V;必要时降低第一级输出或加大中间电容。
- 现象:两颗 LDO 并联,一颗烫、一颗凉,输出电流不均。原因:两颗输出电压有容差,输出阻抗又低,微小偏差产生大环流;1.8V/±1%、10mΩ 时环流可达 0.9A。解决:不要直接并联;用支持均流的 LDO,或每颗串均流电阻,或改用一颗大电流 LDO。
- 现象:电池设备待机几天就没电。原因:只看了满载效率,忽略 I_Q;1mA 静态电流对 2000mAh 电池就是 83 天。解决:按待机电流算;选 µA 级 I_Q 的 LDO;不用时用 EN 关断,关断电流可到 nA 级。
- 现象:输入掉电后,输出电容把 LDO 或前级倒灌坏。原因:V_{out}>V_{in} 时,输出电容通过调整管/体二极管向输入放电。解决:选带反向电流保护的 LDO;输入串肖特基;或用理想二极管做 ORing。
7. 自测题
3.3V→1.8V/500mA、I_Q=1mA。功耗多少?SOT-23-5(250°C/W)与 DFN(60°C/W)在 25°C 下结温各多少?
P_d=(3.3-1.8)\times0.5+3.3\times0.001=0.753\ \text{W}SOT-23-5:
T_j=25+0.753\times250=213.3^{\circ}\text{C}>125^{\circ}\text{C}DFN:
T_j=25+0.753\times60=70.2^{\circ}\text{C}同一颗芯片,封装决定生死。 最坏输入 3.465V 时 P_d=0.836W,DFN 结温 75.2°C。
输入 100mVpp、100kHz,PSRR 分别为 30dB、40dB、48dB。输出纹波各多少?对 1.8V/12 位 ADC 是几个 LSB?
1 LSB =1.8/4096=0.4395mV。
30dB:100/31.62=3.16mV,3.16/0.4395=7.19 LSB。
40dB:100/100=1.00mV,1.00/0.4395=2.28 LSB。
48dB:100/251.2=0.398mV,0.398/0.4395=0.91 LSB。
要 <1 LSB,PSRR 至少 20\lg(100/0.4395)=47.1dB。
C_{out}=100\muF、f_c=50kHz、ESR=0.05Ω、0.5A 阶跃、允许 100mV。ESR 窗口、零点、相位裕度、跌落各多少?
ESR_{min}=\frac{1}{2\pi\times50\times10^3\times100\times10^{-6}}=0.0318\ \OmegaESR_{max}=\frac{0.1}{0.5}=0.2\ \Omegaf_z=\frac{1}{2\pi\times0.05\times100\times10^{-6}}=31.8\ \text{kHz}PM\approx\arctan\frac{50}{31.8}=57.5^{\circ}\Delta V_{under}=0.5\times(0.05+0.0318)=40.9\ \text{mV}窗口 0.0318~0.2Ω;取 0.05Ω 时 PM 57.5°、跌落 40.9mV。
5V→3.3V→1.8V 两级 LDO,PSRR 各 40dB 与 48dB(100kHz)。总 PSRR、100mV 输入下的输出纹波、总效率各多少?
PSRR_{total}\approx40+48=88\ \text{dB}V_{out,ripple}=\frac{100}{10^{88/20}}=\frac{100}{25119}=3.98\ \mu\text{V}\eta\approx\frac{1.8}{5}=36.0\%总压差 (5-3.3)+(3.3-1.8)=3.2V。级联买 PSRR,不买效率。
两颗 1.8V LDO 直接并联,±1% 容差、每颗输出电阻 10mΩ。最坏环流多少?加 0.1Ω 均流电阻后呢?
最坏偏差 1.8\times1\%=18mV:
I_c=\frac{18\ \text{mV}}{10\ \text{m}\Omega+10\ \text{m}\Omega}=0.9\ \text{A}加 0.1Ω:
I_c=\frac{18}{2\times0.1+0.02}=81.8\ \text{mA}环流仍占 0.5A 的 16%,且 0.5A 时每颗电阻压降 50mV。直接并联不可取;用均流 LDO 或单颗大电流器件。
LDO 的 I_Q=1mA 与 10µA,2000mAh 电池、3.7V,理论待机各多少?为什么实际更短?
1mA:
t=\frac{2\ \text{Ah}}{0.001\ \text{A}}=2000\ \text{h}=83.3\ \text{天}10µA:
t=\frac{2}{0.00001}=200000\ \text{h}=22.8\ \text{年}实际受电池自放电(典型 2%~3%/月)、保护板静态电流、负载待机电流、温度影响,通常远短于理论值。I_Q 是电池设备的第一指标。
为什么 12V→3.3V/1A 不适合用 LDO?算一下功耗与结温。
P_d=(12-3.3)\times1=8.7\ \text{W}即使 DFN 60°C/W:
T_j=25+8.7\times60=547^{\circ}\text{C}远超 125°C。必须先用 Buck 把 12V 降到 4~5V,再用 LDO 后级;或者全用 Buck。LDO 只适合小压差、小电流、低噪声的场合。
8. 参考资料
- Analog Devices, Low-Dropout Linear Regulator (LDO) Application Tutorial:压差、调整管结构、环路补偿、PSRR 与热设计;本章 2.2、2.7、3.1 的结构与 ESR 窗口按该文。https://www.analog.com/en/resources/technical-articles/lowdropout-linear-regulator-ldo-application-tutorial.html
- Analog Devices, MT-043 Op Amp Power Supply Rejection Ratio (PSRR) and Supply Voltages:PSRR 的 dB 定义、正负电源分别给值与频率特性;本章 2.4、3.3 的 20\lg 口径按该文。https://www.analog.com/media/en/training-seminars/tutorials/MT-043.pdf
- TI, LM317 数据手册:Line/Load Regulation、Dropout Voltage 与热设计参数;本章 3.1 的功耗/结温核算与 4.2 的封装对比参考该表。https://www.ti.com/lit/ds/symlink/lm317.pdf
- TI, LP5907 250mA 低噪声 LDO 数据手册:PSRR、Output Noise 与 Output Capacitor 曲线;本章 2.4、2.5、3.6 的量级参照该手册(具体型号以数据手册为准)。https://www.ti.com/lit/ds/symlink/lp5907.pdf
- Horowitz & Hill, The Art of Electronics, 3rd ed., Chapter 9 Voltage Regulation and Power Conversion:线性稳压、基准、效率与热设计的工程讲法;本章 2.3 与 5.1 的量级参照该章。
- TI, LDO 产品与应用笔记索引:线性稳压器拓扑、输出电容稳定性与热设计资料入口;本章 5.2 的选型顺序参考该索引。https://www.ti.com/product-category/power-management/linear-ldo-regulators/overview.html